半導體產業

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電動車、車用電子與感測器、5G、穿戴裝置、AI、云端儲存運算..等新技術發展帶動下，全球先進制程半導體的需求持續增加，半導體制程技術演進，也使得元件尺寸越做越小，元件也開始出現可靠度[翹曲、脫層、裂痕]與制程上的問題，對于半導體的可靠度測試、故障分析及壽命推估，的要求與嚴苛也有所提升，需要進行氣候環境模擬試驗[結露、呼吸、溫濕度組合、濕冷凍、溫度循環…等]，相關元件與組件的壽命時間拉長，需要縮短試驗時間，因此必須要進行加速壽命與強迫吸濕試驗[PCT、HAST、uHAST]，將相關半導體可靠度試驗會參考與引用的測試規范整理于此專區。

技術文章與規范

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JEDEC半導體可靠度測試與規范  AEC-Q200試驗條件

相關試驗設備

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恒溫恒濕試驗箱

模擬產品在氣候環境溫濕組合條件下（高低溫操作&儲存、溫度循環、高溫高濕、低溫低濕、結露試驗…等），檢測產品本身的調節能力與特性是否改變?！璺蠂H性規范之要求（IEC、JIS、GB、MIL…）以達到國際間量測程序橫線野蠻整齊的一致性（含測試步驟、條件、方法）避免認知不同，并縮小測量不確定的因素范圍發生。

冷熱沖擊試驗箱

冷熱沖擊機可用來測試材料結構或復合材料，在瞬間下經極高溫及極低溫的連續環境下所能忍受的程度，借以在最短時間內試驗其因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害.適用的對象包括金屬，塑料，橡膠，電子….等材料，可作為其產品改進的依據或參考。

高度加速壽命試驗箱

加速壽命試驗的目的是提高環境應力（如：溫度）與工作應力（施加給產品的電壓、負荷.等），加快試驗過程，縮短產品或系統的壽命試驗時間。用于調查分析何時出現電子元器件，和機械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進行的試驗。